测量信号发生器的频谱纯度是评估其输出信号质量的关键步骤,主要关注相位噪声(Phase Noise)、杂散信号(Spurious Signals)和谐波失真(Harmonic Distortion)等指标。以下是详细的测量方法、工具及操作步骤:
一、核心测量指标
- 相位噪声(Phase Noise)
- 定义:信号频率的短期随机波动,表现为频谱中主信号两侧的“裙边”噪声。
- 影响:降低雷达分辨率、通信系统误码率(BER)和时钟同步精度。
- 典型规格:在10kHz频偏处,高端信号发生器相位噪声可达-140dBc/Hz。
- 杂散信号(Spurious Signals)
- 定义:主信号频点外非谐波相关的离散频率分量,通常由电源噪声、数字电路干扰或机械振动引入。
- 影响:在接收机测试中可能掩盖弱信号,导致灵敏度测试失效。
- 典型规格:杂散抑制比(Spurious Suppression)通常要求>70dBc(相对于主信号)。
- 谐波失真(Harmonic Distortion)
- 定义:主信号频率整数倍(2f₀, 3f₀…)处的信号分量,由非线性放大器或混频器产生。
- 影响:在多频系统(如5G NR)中可能引发互调干扰。
- 典型规格:二次谐波抑制比(2nd Harmonic Suppression)通常要求>40dBc。
二、测量工具与设备
设备名称 | 核心功能 | 典型型号 |
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频谱分析仪 | 直接测量频谱纯度,支持相位噪声、杂散和谐波分析。 | Keysight N9040B UXA、R&S FSW |
相位噪声测试系统 | 专用于高精度相位噪声测量,支持低频偏(如1Hz)测试。 | Keysight E5052B、Holzworth HA7062 |
信号源分析仪 | 集成频谱分析、相位噪声和杂散测量功能,简化操作流程。 | Keysight E5053A、R&S FSPN |
低噪声放大器(LNA) | 提升小信号检测能力,用于测量极低电平的杂散或相位噪声。 | Mini-Circuits ZX60-P33ULN+ |
滤波器组 | 抑制主信号能量,避免频谱分析仪动态范围不足导致的测量误差。 | 定制带通滤波器(中心频率=f₀) |
三、分步测量方法
1. 相位噪声测量
方法一:直接频谱法(适用于频偏>1kHz)
- 连接设备:将信号发生器输出通过同轴电缆连接至频谱分析仪射频输入端。
- 设置参数:
- 中心频率(Center Frequency):设为信号发生器输出频率(如1GHz)。
- 分辨率带宽(RBW):设为频偏的1/10(如测量10kHz频偏时,RBW=1kHz)。
- 扫描时间(Sweep Time):自动或手动调整至稳定显示频谱。
- 读取数据:在频偏Δf(如10kHz)处测量相位噪声电平(单位:dBc/Hz)。
- 示例:若频谱分析仪显示1GHz信号在10kHz频偏处的噪声电平为-135dBm,而主信号功率为+10dBm,则相位噪声为-145dBc/Hz(需扣除主信号功率)。
方法二:交叉相关法(适用于低频偏<1kHz)
- 连接设备:使用相位噪声测试系统(如Keysight E5052B),将信号发生器输出同时接入两个独立通道。
- 交叉相关处理:系统通过交叉相关算法抑制仪器本底噪声,提升低频偏测量精度。
- 读取数据:直接获取相位噪声曲线(如1Hz频偏处相位噪声为-120dBc/Hz)。
2. 杂散信号测量
- 连接设备:信号发生器→(可选LNA)→频谱分析仪。
- 设置参数:
- 频宽(Span):设为信号频率的20%(如1GHz信号设为200MHz)。
- 参考电平(Ref Level):略高于主信号功率(如+15dBm)。
- 衰减器(Attenuator):自动或手动调整,避免输入过载。
- 扫描与标记:
- 启用“Max Hold”功能捕获瞬态杂散。
- 使用标记功能(Marker)测量各杂散分量相对于主信号的电平(如-80dBc)。
- 判断标准:若杂散抑制比<规格书要求(如<70dBc),则需检查信号发生器电源滤波或屏蔽设计。
3. 谐波失真测量
- 连接设备:信号发生器→频谱分析仪(无需LNA,因谐波功率较高)。
- 设置参数:
- 频宽(Span):设为3~5倍主信号频率(如1GHz信号设为5GHz)。
- 分辨率带宽(RBW):设为1kHz~10kHz(平衡速度与精度)。
- 测量谐波:
- 标记二次谐波(2f₀=2GHz)和三次谐波(3f₀=3GHz)。
- 读取谐波电平(如二次谐波为-50dBm,主信号为+10dBm,则抑制比为-60dBc)。
- 优化建议:若谐波抑制比不足,可在信号发生器输出端添加低通滤波器(LPF)。
四、关键注意事项
- 动态范围限制:
- 频谱分析仪动态范围不足时,主信号可能掩盖低电平杂散。解决方案:
- 使用输入衰减器降低主信号功率。
- 插入带通滤波器抑制主信号能量(如中心频率1GHz,带宽100MHz)。
- 启用频谱分析仪的“Noise Floor Extension”功能(如Keysight N9040B)。
- 校准与补偿:
- 测量前需对频谱分析仪进行频率响应校准(Frequency Response Calibration),消除仪器本身频响误差。
- 若使用LNA,需扣除其增益(如LNA增益为30dB,测量杂散电平为-50dBm,则实际杂散电平为-80dBm)。
- 环境干扰抑制:
- 避免在无线通信基站附近测量,防止外部信号干扰。
- 使用屏蔽电缆(如双绞线或同轴电缆)连接设备,减少辐射耦合。
五、典型测试案例
案例:测量1GHz信号发生器的相位噪声
- 设备:Keysight E8267D信号发生器、R&S FSW频谱分析仪。
- 步骤:
- 设置信号发生器输出1GHz,+10dBm。
- 连接FSW,设置中心频率1GHz,RBW=1kHz,Span=100kHz。
- 在10kHz频偏处读取噪声电平为-138dBm,扣除主信号功率后相位噪声为-148dBc/Hz。
- 结果分析:优于设备规格书要求的-140dBc/Hz(10kHz频偏处),表明信号发生器相位噪声性能达标。
总结
- 相位噪声:优先使用交叉相关法测量低频偏,直接频谱法适用于高频偏。
- 杂散信号:通过频宽扫描和标记功能定位离散分量,结合滤波器提升动态范围。
- 谐波失真:扩大频宽捕获高次谐波,使用低通滤波器优化抑制比。
- 关键工具:频谱分析仪是核心设备,相位噪声测试系统可提升低频偏测量精度。
- 环境控制:避免外部干扰,确保校准有效性,以获得准确可靠的测量结果。